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斷口纖維率測量?jì)x

簡(jiǎn)(jiǎn)要描述:斷口纖維率測量?jì)x適用于對金屬材料擺錘沖擊試樣斷口的分析工作。通過(guò)(guò)其特定的電子光學(xué)(xué)采樣系統將沖擊試樣斷口形貌進(jìn)(jìn)行全視野實(shí)(shí)時(shí)(shí)采樣,可完成對擺錘沖擊試樣斷口纖維率進(jìn)(jìn)行測量。操作方便,準確率高,并能進(jìn)(jìn)行以往手工不能完成的操作,可自動(dòng)(dòng)判斷結果。儲存的結果數據可供用戶(hù)(hù)進(jìn)(jìn)行反復核對處理。

  • 產(chǎn)(chǎn)品型號:TOP-FE
  • 廠(chǎng)(chǎng)商性質(zhì)(zhì):生產(chǎn)(chǎn)廠(chǎng)(chǎng)家
  • 更新時(shí)(shí)間:2024-06-12
  • 訪(fǎng)(fǎng)  問(wèn)(wèn)  量:1773

詳細介紹

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斷口纖維率測量?jì)x介紹:

      斷口纖維率測量?jì)x適用于對金屬材料擺錘沖擊試樣斷口的分析工作。通過(guò)(guò)其特定的電子光學(xué)(xué)采樣系統將沖擊試樣斷口形貌進(jìn)(jìn)行全視野實(shí)(shí)時(shí)(shí)采樣,可完成對擺錘沖擊試樣斷口纖維率進(jìn)(jìn)行測量。操作方便,準確率高,并能進(jìn)(jìn)行以往手工不能完成的操作,可自動(dòng)(dòng)判斷結果。儲存的結果數據可供用戶(hù)(hù)進(jìn)(jìn)行反復核對處理。

   通過(guò)(guò)斷口的形態(tài)(tài)分析去研究一些斷裂的基本問(wèn)(wèn)題:如斷裂起因、斷裂性質(zhì)(zhì)、斷裂方式、斷裂機制、斷裂韌性、斷裂過(guò)(guò)程的應力狀態(tài)(tài)以及裂紋擴展速率等。如果要求深入地研究材料的冶金因素和環(huán)(huán)境因素對斷裂過(guò)(guò)程的影響,通常還要進(jìn)(jìn)行斷口表面的微區成分分析、主體分析、結晶學(xué)(xué)分析和斷口的應力與應力分析等。隨著(zhù)(zhù)斷裂學(xué)(xué)科的發(fā)(fā)展,斷口分析同斷裂力學(xué)(xué)等所研究的問(wèn)(wèn)題更加密切相關(guān)(guān),互相滲透,互相配合;斷口分析的實(shí)(shí)驗技術(shù)(shù)和分析問(wèn)(wèn)題的深度將會(huì )(huì )取得新的發(fā)(fā)展。斷口分析現已成為對金屬構件進(jìn)(jìn)行失效分析的重要手段。

    ,越來(lái)(lái)越多的行業(yè)(yè)已經(jīng)(jīng)開(kāi)(kāi)始執行GB/T12778-2008《金屬夏比沖擊斷口測定方法》所以在整個(gè)(gè)試驗后,通過(guò)(guò)沖擊試樣斷口分析材料至關(guān)(guān)重要。幫助實(shí)(shí)驗人員更真實(shí)(shí)的了解材料的特性,分析實(shí)(shí)驗數據的準確性等,其質(zhì)(zhì)量檢驗是一個(gè)(gè)重要的控制手段,目前,我公司通過(guò)(guò)電子光學(xué)(xué)投影技術(shù)(shù)檢驗實(shí)(shí)現了切實(shí)(shí)可行的方法。

       是我公司根據廣大用戶(hù)(hù)的實(shí)(shí)際需要和GB/T299-2007《金屬夏比沖擊試驗方法》中將沖擊試樣斷口的要求而開(kāi)(kāi)發(fā)(fā)的一種于檢驗沖擊試樣斷口精密測量的精密儀器。該儀器是利用光學(xué)(xué)投影方法將被測的沖擊試樣斷口全貌顯示在PC上,讓試驗人員更清楚的觀(guān)(guān)看、測量、分析沖擊試樣斷口的形貌,來(lái)(lái)分析材料特性以及試驗數據。其優(yōu)(yōu)點(diǎn)(diǎn)是操作簡(jiǎn)(jiǎn)便,對比直觀(guān)(guān),消除了人員測量的操作誤差,解決了常規無(wú)(wú)法測量的問(wèn)(wèn)題,保存數據為以備日后復查提供可可靠地數據。

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